정밀 검사 기술 고도화 프로젝트

P&L SEMI는 광반도체 소자의 품질과 측정 데이터 신뢰성을 더욱 높이기 위해 정밀 검사 기술 고도화 프로젝트를 진행하고 있습니다.

측정 정확도와 반복성 향상

제품 특성 평가 과정에서 발생할 수 있는 측정 편차를 줄이고, 반복 검사에서도 일관된 결과를 확보할 수 있도록 검사 조건과 데이터 관리 체계를 정교화하고 있습니다.

공정 데이터의 체계적 관리

설계·생산·검사 단계에서 축적되는 데이터를 연계해 품질 이상을 빠르게 파악하고 원인을 분석할 수 있는 기반을 강화하고 있습니다. 이를 통해 공정 안정성과 제품 추적성을 함께 높이는 것이 목표입니다.

고객 요구에 대응하는 검사 역량

제품과 적용 분야에 따라 요구되는 특성이 다른 만큼, 고객의 사양과 품질 기준에 맞춘 검사 조건을 지속적으로 개발하고 있습니다. 축적된 기술과 자체 FAB 운영 경험을 바탕으로 신뢰할 수 있는 검사 결과를 제공하겠습니다.

P&L SEMI는 정밀 검사 기술을 지속적으로 고도화하여 안정적인 품질과 고객 경쟁력 향상에 기여하겠습니다.